S.M.A.R.T. 屬性參數(shù)詳解(**artisan os)

程心 — Fri, 22 Apr 2022 06:58:21 +0000

硬盤的故障一般分為兩種：可預(yù)測的(predictable)和不可預(yù)測的(unpredictable)。后者偶而會發(fā)生，也沒有辦法去預(yù)防它，例如芯片突然失效，機(jī)械撞擊等。但像電機(jī)軸承磨損、盤片磁介質(zhì)性能下降等都屬于可預(yù)測的情況，可以在在幾天甚至幾星期前就發(fā)現(xiàn)這種不正常的現(xiàn)象。如果發(fā)生這種問題，**ART功能會在開機(jī)時(shí)響起警報(bào)，至少讓使用者有足夠的時(shí)間把重要資料轉(zhuǎn)移到其它儲存設(shè)備上。-

最早期的硬盤**技術(shù)起源于1992年，IBM在AS/400計(jì)算機(jī)的IBM 0662 SCSI 2代硬盤驅(qū)動(dòng)器中使用了后來被命名為Predictive Failure **ysis(故障預(yù)警分析技術(shù))的**技術(shù)，它是通過在固件中測量幾個(gè)重要的硬盤安全參數(shù)和評估他們的情況，然后由**軟件得出兩種結(jié)果：“硬盤安全”或“不久后會發(fā)生故障”。-

不久，當(dāng)時(shí)的微機(jī)制造商康柏和硬盤制造商希捷、昆騰以及康納共同提出了名為IntelliSafe的類似技術(shù)。通過該技術(shù)，硬盤可以測量自身的的健康指標(biāo)并將參量值傳送給**作系統(tǒng)和用戶的**軟件中，每個(gè)硬盤生產(chǎn)商有權(quán)決定哪些指標(biāo)需要被**以及設(shè)定它們的安全閾值。-

1995年，康柏公司將該技術(shù)方案提交到**all Form Factor(SFF)委員會進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)化，該方案得到IBM、希捷、昆騰、康納和西部數(shù)據(jù)的支持，1996年6月進(jìn)行了1.3版的修正，正式更名為S.M.A.R.T.(Self-Monitoring **ysis And Reporting Technology)，全稱就是“自我檢測分析與報(bào)告技術(shù)”，成為一種自動(dòng)**硬盤驅(qū)動(dòng)器完好狀況和報(bào)告潛在問題的技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)。-

作為行業(yè)規(guī)范，**ART規(guī)定了硬盤制造廠商應(yīng)遵循的標(biāo)準(zhǔn)，滿足**ART標(biāo)準(zhǔn)的條件主要包括：-

1)在設(shè)備制造期間完成**ART需要的各項(xiàng)參數(shù)、屬性的設(shè)定;-

2)在特定系統(tǒng)平臺下，能夠正常使用**ART;通過BIOS檢測，能夠識別設(shè)備是否支持**ART并可顯示相關(guān)信息，而且能辨別有效和失效的**ART信息;-

3)允許用戶自由開啟和關(guān)閉**ART功能;-

4)在用戶使用過程中，能提供**ART的各項(xiàng)有效信息，確定設(shè)備的工作狀態(tài)，并能發(fā)出相應(yīng)的修正指令或警告。在硬盤及**作系統(tǒng)都支持**ART技術(shù)并且開啟的情況下，若硬盤狀態(tài)不良，**ART技術(shù)能夠在屏幕上顯示英文警告信息：“WARNING：IMMEDIATLY BACKUP YOUR DATA AND REPLACE YOUR HARD DISK DRIVE，A FAILURE MAY BE IMMINENT.”(警告：立刻備份你的數(shù)據(jù)并更換硬盤，硬盤可能失效。)-

**ART功能不斷從硬盤上的各個(gè)傳感器收集信息，并把信息保存在硬盤的系統(tǒng)保留區(qū)(service area)內(nèi)，這個(gè)區(qū)域一般位于硬盤0物理面的最前面幾十個(gè)物理磁道，由廠商寫入相關(guān)的內(nèi)部管理程序。這里除了**ART信息表外還包括低級格式化程序、加密解密程序、自**程序、自動(dòng)修復(fù)程序等。用戶使用的監(jiān)測軟件通過名為“**ART Return Status”的命令(命令代碼為：B0h)對**ART信息進(jìn)行讀取，且不允許最終用戶對信息進(jìn)行修改。-

二、**ART的ID代碼

硬盤**ART檢測的ID代碼以兩位十六進(jìn)制數(shù)表示(括號里對應(yīng)的是十進(jìn)制數(shù))硬盤的各項(xiàng)檢測參數(shù)。目前，各硬盤制造商的絕大部分**ART ID代碼所代表的參數(shù)含義是一致的，但廠商也可以根據(jù)需要使用不同的ID代碼，或者根據(jù)檢測項(xiàng)目的多少增減ID代碼。一般來說，以下這些檢測項(xiàng)是必需的：-

01(001) 底層數(shù)據(jù)讀取錯(cuò)誤率 Raw Read Error Rate-

04(004) 啟動(dòng)/停止計(jì)數(shù) Start/Stop Count-

05(005) 重映射扇區(qū)數(shù) Relocated Sector Count-

09(009) 通電時(shí)間累計(jì) Power-On Time Count (POH)-

0A(010) 主軸起旋重試次數(shù)(即硬盤主軸電機(jī)啟動(dòng)重試次數(shù)) Spin up Retry Count-

0B(011) 磁盤校準(zhǔn)重試次數(shù) Calibration Retry Count-

0C(012) 磁盤通電次數(shù) Power Cycle Count-

C2(194) 溫度 Temperature-

C7(199) ULTRA DMA奇偶校驗(yàn)錯(cuò)誤率 ULTRA ATA CRC Error Rate-

C8(200) 寫錯(cuò)誤率 Write Error Rate-

三、**ART的描述(Description)

描述，即某一檢測項(xiàng)目的名稱，是ID代碼的文字解釋。對用戶而言，不僅要了解描述的含義，重要的是要了解各參數(shù)的值如“臨界值”、“最差值”的定義，“當(dāng)前值”與“數(shù)據(jù)值”的區(qū)別等，才能對自己的硬盤狀態(tài)有一個(gè)基本了解。-

四、**ART的值

1、臨界值(Threshold)-

臨界值是硬盤廠商指定的表示某一項(xiàng)目可靠性的門限值，也稱閾值，它通過特定公式計(jì)算而得。如果某個(gè)參數(shù)的當(dāng)前值接近了臨界值，就意味著硬盤將變得不可靠，可能導(dǎo)致數(shù)據(jù)丟失或者硬盤故障。由于臨界值是硬盤廠商根據(jù)自己產(chǎn)品特性而確定的，因此用廠商提供的專用檢測軟件往往會跟Windows下檢測軟件的檢測結(jié)果有較大出入。-

以參數(shù)Raw Read Error Rate(底層數(shù)據(jù)讀取錯(cuò)誤率)為例：某型硬盤對該參數(shù)的計(jì)算公式為“10×log10(主機(jī)和硬盤之間所傳輸數(shù)據(jù)的扇區(qū)數(shù))×512×8/重讀的扇區(qū)數(shù)”。其中“512×8”是把扇區(qū)數(shù)轉(zhuǎn)化為所傳輸?shù)臄?shù)據(jù)位(bits)，這個(gè)值只在所傳輸?shù)臄?shù)據(jù)位處于1010～1012范圍時(shí)才作計(jì)算，而當(dāng)Windows系統(tǒng)啟動(dòng)后，主機(jī)和硬盤之間所傳輸?shù)臄?shù)據(jù)扇區(qū)大于或等于1012時(shí)，此值將重新復(fù)位，所以有些值在不同的**作環(huán)境、不同檢測程序下時(shí)會有較大的波動(dòng)。-

2、當(dāng)前值(Normalized value)-

當(dāng)前值是各ID項(xiàng)在硬盤運(yùn)行時(shí)根據(jù)實(shí)測數(shù)據(jù)通過公式計(jì)算的結(jié)果，計(jì)算公式由硬盤廠家自定。-

硬盤出廠時(shí)各ID項(xiàng)目都有一個(gè)預(yù)設(shè)的最大正常值，也即出廠值，這個(gè)預(yù)設(shè)的依據(jù)及計(jì)算方法為硬盤廠家保密，不同型號的硬盤都不同，最大正常值通常為100或200或253，新硬盤剛開始使用時(shí)顯示的當(dāng)前值可以認(rèn)為是預(yù)設(shè)的最大正常值(有些ID項(xiàng)如溫度等除外)。隨著使用損耗或出現(xiàn)錯(cuò)誤，當(dāng)前值會根據(jù)實(shí)測數(shù)據(jù)而不斷刷新并逐漸減小。因此，當(dāng)前值接近臨界值就意味著硬盤壽命的減少，發(fā)生故障的可能性增大，所以當(dāng)前值也是判定硬盤健康狀態(tài)或推測壽命的依據(jù)之一。-

3、最差值(Worst)-

最差值是硬盤運(yùn)行時(shí)各ID項(xiàng)曾出現(xiàn)過的最大的非正常值。-

最差值是對硬盤運(yùn)行中某項(xiàng)數(shù)據(jù)變劣的峰值統(tǒng)計(jì)，該數(shù)值也會不斷刷新。通常，最差值與當(dāng)前值是相等的，如果最差值出現(xiàn)較大的波動(dòng)(小于當(dāng)前值)，表明硬盤曾出現(xiàn)錯(cuò)誤或曾經(jīng)歷過惡劣的工作環(huán)境(如溫度)。-

4、數(shù)據(jù)值(Data或Raw value)-

數(shù)據(jù)值是硬盤運(yùn)行時(shí)各項(xiàng)參數(shù)的實(shí)測值，大部分**ART工具以十進(jìn)制顯示數(shù)據(jù)。-

數(shù)據(jù)值代表的意義隨參數(shù)而定，大致可以分為三類：-

1)數(shù)據(jù)值并不直接反映硬盤狀態(tài)，必須經(jīng)過硬盤內(nèi)置的計(jì)算公式換算成當(dāng)前值才能得出結(jié)果;-

2)數(shù)據(jù)值是直接累計(jì)的，如Start/Stop Count(啟動(dòng)/停止計(jì)數(shù))的數(shù)據(jù)是50，即表示該硬盤從出廠到現(xiàn)在累計(jì)啟停了50次;-

3)有些參數(shù)的數(shù)據(jù)是即時(shí)數(shù)，如Temperature(溫度)的數(shù)據(jù)值是44，表示硬盤的當(dāng)前溫度是44℃。-

因此，有些參數(shù)直接查看數(shù)據(jù)也能大致了解硬盤目前的工作狀態(tài)。-

五、狀態(tài)(Status)

硬盤的每項(xiàng)**ART信息中都有一個(gè)臨界值(閾值)，不同硬盤的臨界值是不同的，**ART針對各項(xiàng)的當(dāng)前值、最差值和臨界值的比較結(jié)果以及數(shù)據(jù)值進(jìn)行分析后，提供硬盤當(dāng)前的評估狀態(tài)，也是我們直觀判斷硬盤健康狀態(tài)的重要信息。根據(jù)**ART的規(guī)定，狀態(tài)一般有正常、警告、故障或錯(cuò)誤三種狀態(tài)。-

**ART判定這三個(gè)狀態(tài)與**ART的 Pre-failure/a**isory BIT(預(yù)測錯(cuò)誤/發(fā)現(xiàn)位)參數(shù)的賦值密切相關(guān)，當(dāng)Pre-failure/a**isory BIT=0，并且當(dāng)前值、最差值遠(yuǎn)大于臨界值的情況下，為正常標(biāo)志。當(dāng)Pre-failure/a**isory BIT=0，并且當(dāng)前值、最差值大于但接近臨界值時(shí)，為警告標(biāo)志;當(dāng)Pre-failure/a**isory BIT=1，并且當(dāng)前值、最差值小于臨界值時(shí)，為故障或錯(cuò)誤標(biāo)志。-

六、**ART參數(shù)詳解

一般情況下，用戶只要觀察當(dāng)前值、最差值和臨界值的關(guān)系，并注意狀態(tài)提示信息即可大致了解硬盤的健康狀況。下面簡單介紹各參數(shù)的含義，以紅色標(biāo)出的項(xiàng)目是壽命關(guān)鍵項(xiàng)，藍(lán)色為固態(tài)硬盤(SSD)特有的項(xiàng)目。-

在基于閃存的固態(tài)硬盤中，存儲單元分為兩類：SLC(Single Layer Cell，單層單元)和MLC(Multi-Level Cell，多層單元)。SLC成本高、容量小、但讀寫速度快，可靠性高，擦寫次數(shù)可高達(dá)100000次，比MLC高10倍。而MLC雖容量大、成本低，但其性能大幅落后于SLC。為了保證MLC的壽命，控制芯片還要有智能磨損平衡技術(shù)算法，使每個(gè)存儲單元的寫入次數(shù)可以平均分?jǐn)?，以達(dá)到100萬小時(shí)的平均無故障時(shí)間。因此固態(tài)硬盤有許多**ART參數(shù)是機(jī)械硬盤所沒有的，如存儲單元的擦寫次數(shù)、備用塊統(tǒng)計(jì)等等，這些新增項(xiàng)大都由廠家自定義，有些尚無詳細(xì)的解釋，有些解釋也未必準(zhǔn)確，此處也只是僅供參考。下面凡未注明廠商的固態(tài)硬盤特有的項(xiàng)均為SandForce主控芯片特有的，其它廠商各自單獨(dú)注明。-

01(001)底層數(shù)據(jù)讀取錯(cuò)誤率 Raw Read Error Rate–

數(shù)據(jù)為0或任意值，當(dāng)前值應(yīng)遠(yuǎn)大于與臨界值。-

底層數(shù)據(jù)讀取錯(cuò)誤率是磁頭從磁盤表面讀取數(shù)據(jù)時(shí)出現(xiàn)的錯(cuò)誤，對某些硬盤來說，大于0的數(shù)據(jù)表明磁盤表面或者讀寫磁頭發(fā)生問題，如介質(zhì)損傷、磁頭污染、磁頭共振等等。不過對希捷硬盤來說，許多硬盤的這一項(xiàng)會有很大的數(shù)據(jù)量，這不代表有任何問題，主要是看當(dāng)前值下降的程度。-

在固態(tài)硬盤中，此項(xiàng)的數(shù)據(jù)值包含了可校正的錯(cuò)誤與不可校正的RAISE錯(cuò)誤(UECC+URAISE)。-

注：RAISE(Redundant Array of Independent Silicon Elements)意為**硅元素冗余陣列，是固態(tài)硬盤特有的一種冗余恢復(fù)技術(shù)，保證內(nèi)部有類似RAID陣列的數(shù)據(jù)安全性。-

02(002)磁盤讀寫通量性能 Throughput Performance–

此參數(shù)表示硬盤的讀寫通量性能，數(shù)據(jù)值越大越好。當(dāng)前值如果偏低或趨近臨界值，表示硬盤存在嚴(yán)重的問題，但現(xiàn)在的硬盤通常顯示數(shù)據(jù)值為0或根本不顯示此項(xiàng)，一般在進(jìn)行了人工脫機(jī)**ART測試后才會有數(shù)據(jù)量。-

03(003)主軸起旋時(shí)間 Spin Up Time–

主軸起旋時(shí)間就是主軸電機(jī)從啟動(dòng)至達(dá)到額定轉(zhuǎn)速所用的時(shí)間，數(shù)據(jù)值直接顯示時(shí)間，單位為毫秒或者秒，因此數(shù)據(jù)值越小越好。不過對于正常硬盤來說，這一項(xiàng)僅僅是一個(gè)參考值，硬盤每次的啟動(dòng)時(shí)間都不相同，某次啟動(dòng)的稍慢些也不表示就有問題。-

硬盤的主軸電機(jī)從啟動(dòng)至達(dá)到額定轉(zhuǎn)速大致需要4秒～15秒左右，過長的啟動(dòng)時(shí)間說明電機(jī)驅(qū)動(dòng)電路或者軸承機(jī)構(gòu)有問題。旦這一參數(shù)的數(shù)據(jù)值在某些型號的硬盤上總是為0，這就要看當(dāng)前值和最差值來判斷了。-

對于固態(tài)硬盤來說，所有的數(shù)據(jù)都是保存在半導(dǎo)體集成電路中，沒有主軸電機(jī)，所以這項(xiàng)沒有意義，數(shù)據(jù)固定為0，當(dāng)前值固定為100。-

04(004)啟停計(jì)數(shù) Start/Stop Count–

這一參數(shù)的數(shù)據(jù)是累計(jì)值，表示硬盤主軸電機(jī)啟動(dòng)/停止的次數(shù)，新硬盤通常只有幾次，以后會逐漸增加。系統(tǒng)的某些功能如空閑時(shí)關(guān)閉硬盤等會使硬盤啟動(dòng)/停止的次數(shù)大為增加，在排除定時(shí)功能的影響下，過高的啟動(dòng)/停止次數(shù)(遠(yuǎn)大于通電次數(shù)0C)暗示硬盤電機(jī)及其驅(qū)動(dòng)電路可能有問題。-

這個(gè)參數(shù)的當(dāng)前值是依據(jù)某種公式計(jì)算的結(jié)果，例如對希捷某硬盤來說臨界值為20，當(dāng)前值是通過公式“100-(啟停計(jì)數(shù)/1024)”計(jì)算得出的。若新硬盤的啟停計(jì)數(shù)為0，當(dāng)前值為100-(0/1024)=100，隨著啟停次數(shù)的增加，該值不斷下降，當(dāng)啟停次數(shù)達(dá)到81920次時(shí)，當(dāng)前值為100-(81920/1024)=20，已達(dá)到臨界值，表示從啟停次數(shù)來看，該硬盤已達(dá)設(shè)計(jì)壽命，當(dāng)然這只是個(gè)壽命參考值，并不具有確定的指標(biāo)性。-

這一項(xiàng)對于固態(tài)硬盤同樣沒有意義，數(shù)據(jù)固定為0，當(dāng)前值固定為100。-

05(005)重映射扇區(qū)計(jì)數(shù) Reallocated Sectors Count/ 退役塊計(jì)數(shù) Retired Block Count–

數(shù)據(jù)應(yīng)為0，當(dāng)前值應(yīng)遠(yuǎn)大于臨界值。-

當(dāng)硬盤的某扇區(qū)持續(xù)出現(xiàn)讀/寫/校驗(yàn)錯(cuò)誤時(shí)，硬盤固件程序會將這個(gè)扇區(qū)的物理地址加入缺陷表(G-list)，將該地址重新定向到預(yù)先保留的備用扇區(qū)并將其中的數(shù)據(jù)一并轉(zhuǎn)移，這就稱為重映射。執(zhí)行重映射**作后的硬盤在Windows常規(guī)檢測中是無法發(fā)現(xiàn)不良扇區(qū)的，因其地址已被指向備用扇區(qū)，這等于屏蔽了不良扇區(qū)。-

這項(xiàng)參數(shù)的數(shù)據(jù)值直接表示已經(jīng)被重映射扇區(qū)的數(shù)量，當(dāng)前值則隨著數(shù)據(jù)值的增加而持續(xù)下降。當(dāng)發(fā)現(xiàn)此項(xiàng)的數(shù)據(jù)值不為零時(shí)，要密切注意其發(fā)展趨勢，若能長期保持穩(wěn)定，則硬盤還可以正常運(yùn)行;若數(shù)據(jù)值不斷上升，說明不良扇區(qū)不斷增加，硬盤已處于不穩(wěn)定狀態(tài)，應(yīng)當(dāng)考慮更換了。如果當(dāng)前值接近或已到達(dá)臨界值(此時(shí)的數(shù)據(jù)值并不一定很大，因?yàn)椴煌脖P保留的備用扇區(qū)數(shù)并不相同)，表示缺陷表已滿或備用扇區(qū)已用盡，已經(jīng)失去了重映射功能，再出現(xiàn)不良扇區(qū)就會顯現(xiàn)出來并直接導(dǎo)致數(shù)據(jù)丟失。-

這一項(xiàng)不僅是硬盤的壽命關(guān)鍵參數(shù)，而且重映射扇區(qū)的數(shù)量也直接影響硬盤的性能，例如某些硬盤會出現(xiàn)數(shù)據(jù)量很大，但當(dāng)前值下降不明顯的情況，這種硬盤盡管還可正常運(yùn)行，但也不宜繼續(xù)使用。因?yàn)閭溆蒙葏^(qū)都是位于磁盤尾部(靠近盤片軸心處)，大量的使用備用扇區(qū)會使尋道時(shí)間增加，硬盤性能明顯下降。-

這個(gè)參數(shù)在機(jī)械硬盤上是非常敏感的，而對于固態(tài)硬盤來說同樣具有重要意義。閃存的壽命是正態(tài)分布的，例如說MLC能寫入一萬次以上，實(shí)際上說的是寫入一萬次之前不會發(fā)生“批量損壞”，但某些單元可能寫入幾十次就損壞了。換言之，機(jī)械硬盤的盤片不會因讀寫而損壞，出現(xiàn)不良扇區(qū)大多與工藝質(zhì)量相關(guān)，而閃存的讀寫次數(shù)則是有限的，因而損壞是正常的。所以固態(tài)硬盤在制造時(shí)也保留了一定的空間，當(dāng)某個(gè)存儲單元出現(xiàn)問題后即把損壞的部分隔離，用好的部分來頂替。這一替換方法和機(jī)械硬盤的扇區(qū)重映射是一個(gè)道理，只不過機(jī)械硬盤正常時(shí)極少有重映射**作，而對于固態(tài)硬盤是經(jīng)常性的。-

在固態(tài)硬盤中這一項(xiàng)的數(shù)據(jù)會隨著使用而不斷增長，只要增長的速度保持穩(wěn)定就可以。通常情況下，數(shù)據(jù)值=100-(100×被替換塊/必需塊總數(shù))，因此也可以估算出硬盤的剩余壽命。-

Intel固態(tài)硬盤型號的第十二個(gè)字母表示了兩種規(guī)格，該字母為1表示第一代的50納米技術(shù)的SSD，為2表示第二代的34納米技術(shù)的SSD，如SSDSA2M160G2GN就表示是34nm的SSD。所以參數(shù)的查看也有兩種情況：-

50nm的SSD(一代)要看當(dāng)前值。這個(gè)值初始是100，當(dāng)出現(xiàn)替換塊的時(shí)候這個(gè)值并不會立即變化，一直到已替換四個(gè)塊時(shí)這個(gè)值變?yōu)?，之后每增加四個(gè)塊當(dāng)前值就+1。也就是100對應(yīng)0～3個(gè)塊，1對應(yīng)4～7個(gè)塊，2對應(yīng)8～11個(gè)塊……-

34nm的SSD(二代)直接查看數(shù)據(jù)值，數(shù)據(jù)值直接表示有多少個(gè)被替換的塊。-

06(006)讀取通道余量 Read Channel Margin–

這一項(xiàng)功能不明，現(xiàn)在的硬盤也不顯示這一項(xiàng)。-

07(007)尋道錯(cuò)誤率 Seek Error Rate–

數(shù)據(jù)應(yīng)為0，當(dāng)前值應(yīng)遠(yuǎn)大于與臨界值。-

這一項(xiàng)表示磁頭尋道時(shí)的錯(cuò)誤率，有眾多因素可導(dǎo)致尋道錯(cuò)誤率上升，如磁頭組件的機(jī)械系統(tǒng)、伺服電路有局部問題，盤片表面介質(zhì)不良，硬盤溫度過高等等。-

通常此項(xiàng)的數(shù)據(jù)應(yīng)為0，但對希捷硬盤來說，即使是新硬盤，這一項(xiàng)也可能有很大的數(shù)據(jù)量，這不代表有任何問題，還是要看當(dāng)前值是否下降。-

08(008)尋道性能 Seek Time Performance–

此項(xiàng)表示硬盤尋道**作的平均性能(尋道速度)，通常與前一項(xiàng)(尋道錯(cuò)誤率)相關(guān)聯(lián)。當(dāng)前值持續(xù)下降標(biāo)志著磁頭組件、尋道電機(jī)或伺服電路出現(xiàn)問題，但現(xiàn)在許多硬盤并不顯示這一項(xiàng)。-

09(009)通電時(shí)間累計(jì) Power-On Time Count (POH)–

這個(gè)參數(shù)的含義一目了然，表示硬盤通電的時(shí)間，數(shù)據(jù)值直接累計(jì)了設(shè)備通電的時(shí)長，新硬盤當(dāng)然應(yīng)該接近0，但不同硬盤的計(jì)數(shù)單位有所不同，有以小時(shí)計(jì)數(shù)的，也有以分、秒甚至30秒為單位的，這由磁盤制造商來定義。-

這一參數(shù)的臨界值通常為0，當(dāng)前值隨著硬盤通電時(shí)間增加會逐漸下降，接近臨界值表明硬盤已接近預(yù)計(jì)的設(shè)計(jì)壽命，當(dāng)然這并不表明硬盤將出現(xiàn)故障或立即報(bào)廢。參考磁盤制造商給出的該型號硬盤的MTBF(平均無故障時(shí)間)值，可以大致估計(jì)剩余壽命或故障概率。-

對于固態(tài)硬盤，要注意“設(shè)備優(yōu)先電源管理功能(device initiated power management，DIPM)”會影響這個(gè)統(tǒng)計(jì)：如果啟用了DIPM，持續(xù)通電計(jì)數(shù)里就不包括睡眠時(shí)間;如果關(guān)閉了DIPM功能，那么活動(dòng)、空閑和睡眠三種狀態(tài)的時(shí)間都會被統(tǒng)計(jì)在內(nèi)。-

0A(010)主軸起旋重試次數(shù) Spin up Retry Count–

數(shù)據(jù)應(yīng)為0，當(dāng)前值應(yīng)大于臨界值。-

主軸起旋重試次數(shù)的數(shù)據(jù)值就是主軸電機(jī)嘗試重新啟動(dòng)的計(jì)數(shù)，即主軸電機(jī)啟動(dòng)后在規(guī)定的時(shí)間里未能成功達(dá)到額定轉(zhuǎn)速而嘗試再次啟動(dòng)的次數(shù)。數(shù)據(jù)量的增加表示電機(jī)驅(qū)動(dòng)電路或是機(jī)械子系統(tǒng)出現(xiàn)問題，整機(jī)供電不足也會導(dǎo)致這一問題。-

0B(011)磁頭校準(zhǔn)重試計(jì)數(shù) Calibration Retry Count–

數(shù)據(jù)應(yīng)為0，當(dāng)前值應(yīng)遠(yuǎn)大于與臨界值。-

硬盤在溫度發(fā)生變化時(shí)，機(jī)械部件(特別是盤片)會因熱脹冷縮出現(xiàn)形變，因此需要執(zhí)行磁頭校準(zhǔn)**作消除誤差，有的硬盤還內(nèi)置了磁頭定時(shí)校準(zhǔn)功能。這一項(xiàng)記錄了需要再次校準(zhǔn)(通常因上次校準(zhǔn)失敗)的次數(shù)。-

這一項(xiàng)的數(shù)據(jù)量增加，表示電機(jī)驅(qū)動(dòng)電路或是機(jī)械子系統(tǒng)出現(xiàn)問題，但有些型號的新硬盤也有一定的數(shù)據(jù)量，并不表示有問題，還要看當(dāng)前值和最差值。-

0C(012)通電周期計(jì)數(shù) Power Cycle Count–

通電周期計(jì)數(shù)的數(shù)據(jù)值表示了硬盤通電/斷電的次數(shù)，即電源開關(guān)次數(shù)的累計(jì)，新硬盤通常只有幾次。-

這一項(xiàng)與啟停計(jì)數(shù)(04)是有區(qū)別的，一般來說，硬盤通電/斷電意味著計(jì)算機(jī)的開機(jī)與關(guān)機(jī)，所以經(jīng)歷一次開關(guān)機(jī)數(shù)據(jù)才會加1;而啟停計(jì)數(shù)(04)表示硬盤主軸電機(jī)的啟動(dòng)/停止(硬盤在運(yùn)行時(shí)可能多次啟停，如系統(tǒng)進(jìn)入休眠或被設(shè)置為空閑多少時(shí)間而關(guān)閉)。所以大多情況下這個(gè)通電/斷電的次數(shù)會小于啟停計(jì)數(shù)(04)的次數(shù)。-

通常，硬盤設(shè)計(jì)的通電次數(shù)都很高，如至少5000次，因此這一計(jì)數(shù)只是壽命參考值，本身不具指標(biāo)性。-

0D(013)軟件讀取錯(cuò)誤率 Soft Read Error Rate–

軟件讀取錯(cuò)誤率也稱為可校正的讀取誤碼率，就是報(bào)告給**作系統(tǒng)的未經(jīng)校正的讀取錯(cuò)誤。數(shù)據(jù)值越低越好，過高則可能暗示盤片磁介質(zhì)有問題。-

AA(170)壞塊增長計(jì)數(shù) Grown Failing Block Count(Micron 鎂光)–

讀寫失敗的塊增長的總數(shù)。-

AB(171)編程失敗塊計(jì)數(shù) Program Fail Block Count–

Flash編程失敗塊的數(shù)量。-

AC(172)擦寫失敗塊計(jì)數(shù) Erase Fail Block Count–

擦寫失敗塊的數(shù)量。-

AD(173)磨損平衡**作次數(shù)(平均擦寫次數(shù)) / Wear Leveling Count(Micron 鎂光)–

所有好塊的平均擦寫次數(shù)。-

Flash芯片有寫入次數(shù)限制，當(dāng)使用FAT文件系統(tǒng)時(shí)，需要頻繁地更新文件分配表。如果閃存的某些區(qū)域讀寫過于頻繁，就會比其它區(qū)域磨損的更快，這將明顯縮短整個(gè)硬盤的壽命(即便其它區(qū)域的擦寫次數(shù)還遠(yuǎn)小于最大限制)。所以，如果讓整個(gè)區(qū)域具有均勻的寫入量，就可明顯延長芯片壽命，這稱為磨損均衡措施。-

AE(174)意外失電計(jì)數(shù) Unexpected Power Loss Count–

硬盤自啟用后發(fā)生意外斷電事件的次數(shù)。-

B1(177)磨損范圍對比值 Wear Range Delta–

磨損最重的塊與磨損最輕的塊的磨損百分比之差。-

B4(180)未用的備用塊計(jì)數(shù) Unused Reserved Block Count Total(惠普)–

固態(tài)硬盤會保留一些容量來準(zhǔn)備替換損壞的存儲單元，所以可用的預(yù)留空間數(shù)非常重要。這個(gè)參數(shù)的當(dāng)前值表示的是尚未使用的預(yù)留的存儲單元數(shù)量。-

B5(181)編程失敗計(jì)數(shù) Program Fail Count–

用4個(gè)字節(jié)顯示已編程失敗的次數(shù)，與(AB)參數(shù)相似。-

B5(181)非4KB對齊訪問數(shù) Non-4k Aligned Access(Micron 鎂光)–

B6(182)擦寫失敗計(jì)數(shù) Erase Fail Count–

用4個(gè)字節(jié)顯示硬盤自啟用后塊擦寫失敗的次數(shù)，與(AC)參數(shù)相似。-

B7(183)串口降速錯(cuò)誤計(jì)數(shù) SATA Downshift Error Count–

這一項(xiàng)表示了SATA接口速率錯(cuò)誤下降的次數(shù)。通常硬盤與主板之間的兼容問題會導(dǎo)致SATA傳輸級別降級運(yùn)行。-

B8(184)I/O錯(cuò)誤檢測與校正 I/O Error Detection and Correction(IOEDC)–

“I/O錯(cuò)誤檢測與校正”是惠普公司專有的**ART IV技術(shù)的一部分，與其他制造商的I/O錯(cuò)誤檢測和校正架構(gòu)一樣，它記錄了數(shù)據(jù)通過驅(qū)動(dòng)器內(nèi)部高速緩存RAM傳輸?shù)街鳈C(jī)時(shí)的奇偶校驗(yàn)錯(cuò)誤數(shù)量。-

B8(184)點(diǎn)到點(diǎn)錯(cuò)誤檢測計(jì)數(shù) End to End Error Detection Count–

Intel第二代的34nm固態(tài)硬盤有點(diǎn)到點(diǎn)錯(cuò)誤檢測計(jì)數(shù)這一項(xiàng)。固態(tài)硬盤里有一個(gè)LBA(logical block addressing，邏輯塊地址)記錄，這一項(xiàng)顯示了SSD內(nèi)部邏輯塊地址與真實(shí)物理地址間映射的出錯(cuò)次數(shù)。-

B8(184)原始壞塊數(shù) Init Bad Block Count(Indilinx芯片)–

硬盤出廠時(shí)已有的壞塊數(shù)量。-

B9(185)磁頭穩(wěn)定性 Head Stability(西部數(shù)據(jù))–

意義不明。-

BA(186)感應(yīng)運(yùn)算振動(dòng)檢測 nduced Op-Vibration Detection(西部數(shù)據(jù))–

意義不明。-

BB(187)無法校正的錯(cuò)誤 Reported Uncorrectable Errors(希捷)–

報(bào)告給**作系統(tǒng)的無法通過硬件ECC校正的錯(cuò)誤。如果數(shù)據(jù)值不為零，就應(yīng)該備份硬盤上的數(shù)據(jù)了。-

報(bào)告給**作系統(tǒng)的在所有存取命令中出現(xiàn)的無法校正的RAISE(URAISE)錯(cuò)誤。-

BC(188)命令超時(shí) Command Timeout–

由于硬盤超時(shí)導(dǎo)致**作終止的次數(shù)。通常數(shù)據(jù)值應(yīng)為0，如果遠(yuǎn)大于零，最有可能出現(xiàn)的是電源供電問題或者數(shù)據(jù)線氧化致使接觸不良，也可能是硬盤出現(xiàn)嚴(yán)重問題。-

BD(189)高飛寫入 High Fly Writes–

磁頭飛行高度監(jiān)視裝置可以提高讀寫的可靠性，這一裝置時(shí)刻監(jiān)測磁頭的飛行高度是否在正常范圍來保證可靠的寫入數(shù)據(jù)。如果磁頭的飛行高度出現(xiàn)偏差，寫入**作就會停止，然后嘗試重新寫入或者換一個(gè)位置寫入。這種持續(xù)的監(jiān)測過程提高了寫入數(shù)據(jù)的可靠性，同時(shí)也降低了讀取錯(cuò)誤率。這一項(xiàng)的數(shù)據(jù)值就統(tǒng)計(jì)了寫入時(shí)磁頭飛行高度出現(xiàn)偏差的次數(shù)。-

BD(189)出廠壞塊計(jì)數(shù) Factory Bad Block Count(Micron 鎂光芯片)–

BE(190)氣流溫度 Airflow Temperature–

這一項(xiàng)表示的是硬盤內(nèi)部盤片表面的氣流溫度。在希捷公司的某些硬盤中，當(dāng)前值=(100-當(dāng)前溫度)，因此氣流溫度越高，當(dāng)前值就越低，最差值則是當(dāng)前值曾經(jīng)到達(dá)過的最低點(diǎn)，臨界值由制造商定義的最高允許溫度來確定，而數(shù)據(jù)值不具實(shí)際意義。許多硬盤也沒有這一項(xiàng)參數(shù)。-

BF(191)沖擊錯(cuò)誤率 G-sense error rate–

這一項(xiàng)的數(shù)據(jù)值記錄了硬盤受到機(jī)械沖擊導(dǎo)致出錯(cuò)的頻度。-

C0(192)斷電返回計(jì)數(shù) Power-Off Retract Count–

當(dāng)計(jì)算機(jī)關(guān)機(jī)或意外斷電時(shí)，硬盤的磁頭都要返回?？繀^(qū)，不能停留在盤片的數(shù)據(jù)區(qū)里。正常關(guān)機(jī)時(shí)電源會給硬盤一個(gè)通知，即Standby Immediate，就是說主機(jī)要求將緩存數(shù)據(jù)寫入硬盤，然后就準(zhǔn)備關(guān)機(jī)斷電了(休眠、待機(jī)也是如此);意外斷電則表示硬盤在未收到關(guān)機(jī)通知時(shí)就失電，此時(shí)磁頭會自動(dòng)復(fù)位，迅速離開盤片。-

這個(gè)參數(shù)的數(shù)據(jù)值累計(jì)了磁頭返回的次數(shù)。但要注意這個(gè)參數(shù)對某些硬盤來說僅記錄意外斷電時(shí)磁頭的返回動(dòng)作;而某些硬盤記錄了所有(包括休眠、待機(jī)，但不包括關(guān)機(jī)時(shí))的磁頭返回動(dòng)作;還有些硬盤這一項(xiàng)沒有記錄。因此這一參數(shù)的數(shù)據(jù)值在某些硬盤上持續(xù)為0或稍大于0，但在另外的硬盤上則會大于通電周期計(jì)數(shù)(0C)或啟停計(jì)數(shù)(04)的數(shù)據(jù)。在一些新型節(jié)能硬盤中，這一參數(shù)的數(shù)據(jù)量還與硬盤的節(jié)能設(shè)計(jì)相關(guān)，可能會遠(yuǎn)大于通電周期計(jì)數(shù)(0C)或啟停計(jì)數(shù)(04)的數(shù)據(jù)，但又遠(yuǎn)小于磁頭加載/卸載計(jì)數(shù)(C1)的數(shù)據(jù)量。-

對于固態(tài)硬盤來說，雖然沒有磁頭的加載/卸載**作，但這一項(xiàng)的數(shù)據(jù)量仍然代表了不安全關(guān)機(jī)，即發(fā)生意外斷電的次數(shù)。-

C1(193)磁頭加載/卸載計(jì)數(shù) Load/Unload Cycle Count–

對于過去的硬盤來說，盤片停止旋轉(zhuǎn)時(shí)磁頭臂?？坑诒P片中心軸處的停泊區(qū)，磁頭與盤片接觸，只有當(dāng)盤片旋轉(zhuǎn)到一定轉(zhuǎn)速時(shí)，磁頭才開始漂浮于盤片之上并開始向外側(cè)移動(dòng)至數(shù)據(jù)區(qū)。這使得磁頭在硬盤啟停時(shí)都與盤片發(fā)生摩擦，雖然盤片的停泊區(qū)不存儲數(shù)據(jù)，但無疑啟停一個(gè)循環(huán)，就使磁頭經(jīng)歷兩次磨損。所以對以前的硬盤來說，磁頭起降(加載/卸載)次數(shù)是一項(xiàng)重要的壽命關(guān)鍵參數(shù)。-

而在現(xiàn)代硬盤中，平時(shí)磁頭臂是?？坑诒P片之外的一個(gè)專門設(shè)計(jì)的停靠架上，遠(yuǎn)離盤片。只有當(dāng)盤片旋轉(zhuǎn)達(dá)到額定轉(zhuǎn)速后，磁頭臂才開始向內(nèi)(盤片軸心)轉(zhuǎn)動(dòng)使磁頭移至盤片區(qū)域(加載)，磁頭臂向外轉(zhuǎn)動(dòng)返回至?？考芗葱遁d。這樣就徹底杜絕了硬盤啟停時(shí)磁頭與盤片接觸的現(xiàn)象，西部數(shù)據(jù)公司將其稱為“斜坡加載技術(shù)”。由于磁頭在加載/卸載過程中始終不與盤片接觸，不存在磁頭的磨損，使得這一參數(shù)的重要性已經(jīng)大大下降。-

這個(gè)參數(shù)的數(shù)據(jù)值就是磁頭執(zhí)行加載/卸載**作的累計(jì)次數(shù)。從原理上講，這個(gè)加載/卸載次數(shù)應(yīng)當(dāng)與硬盤的啟停次數(shù)相當(dāng)，但對于筆記本內(nèi)置硬盤以及臺式機(jī)新型節(jié)能硬盤來說，這一項(xiàng)的數(shù)據(jù)量會很大。這是因?yàn)榇蓬^臂組件設(shè)計(jì)有一個(gè)固定的返回力矩，保證在意外斷電時(shí)磁頭能靠彈簧力自動(dòng)離開盤片半徑范圍，迅速返回停靠架。所以要讓硬盤運(yùn)行時(shí)磁頭保持在盤片的半徑之內(nèi)，就要使磁頭臂驅(qū)動(dòng)電機(jī)(尋道電機(jī))持續(xù)通以電流。而讓磁頭臂在硬盤空閑幾分鐘后就立即執(zhí)行卸載動(dòng)作，返回到?？考苌?，既有利于節(jié)能，又降低了硬盤受外力沖擊導(dǎo)致磁頭與盤片接觸的概率。雖然再次加載會增加一點(diǎn)尋道時(shí)間，但畢竟弊大于利，所以在這類硬盤中磁頭的加載/卸載次數(shù)會遠(yuǎn)遠(yuǎn)大于通電周期計(jì)數(shù)(0C)或啟停計(jì)數(shù)(04)的數(shù)據(jù)量。不過這種加載/卸載方式已經(jīng)沒有了磁頭與盤片的接觸，所以設(shè)計(jì)值也已大大增加，通常筆記本內(nèi)置硬盤的磁頭加載/卸載額定值在30～60萬次，而臺式機(jī)新型節(jié)能硬盤的磁頭加載/卸載設(shè)計(jì)值可達(dá)一百萬次。-

C2(194)溫度 Temperature–

溫度的數(shù)據(jù)值直接表示了硬盤內(nèi)部的當(dāng)前溫度。硬盤運(yùn)行時(shí)最好不要超過45℃，溫度過高雖不會導(dǎo)致數(shù)據(jù)丟失，但引起的機(jī)械變形會導(dǎo)致尋道與讀寫錯(cuò)誤率上升，降低硬盤性能。硬盤的最高允許運(yùn)行溫度可查看硬盤廠商給出的數(shù)據(jù)，一般不會超過60℃。-

不同廠家對溫度參數(shù)的當(dāng)前值、最差值和臨界值有不同的表示方法：希捷公司某些硬盤的當(dāng)前值就是實(shí)際溫度(攝氏)值，最差值則是曾經(jīng)達(dá)到過的最高溫度，臨界值不具意義;而西部數(shù)據(jù)公司一些硬盤的最差值是溫度上升到某值后的時(shí)間函數(shù)，每次升溫后的持續(xù)時(shí)間都將導(dǎo)致最差值逐漸下降，當(dāng)前值則與當(dāng)前溫度成反比，即當(dāng)前溫度越高，當(dāng)前值越低，隨實(shí)際溫度波動(dòng)。-

C3(195)硬件ECC校正 Hardware ECC Recovered–

ECC(Error Correcting Code)的意思是“錯(cuò)誤檢查和糾正”，這個(gè)技術(shù)能夠容許錯(cuò)誤，并可以將錯(cuò)誤更正，使讀寫**作得以持續(xù)進(jìn)行，不致因錯(cuò)誤而中斷。這一項(xiàng)的數(shù)據(jù)值記錄了磁頭在盤片上讀寫時(shí)通過ECC技術(shù)校正錯(cuò)誤的次數(shù)，不過許多硬盤有其制造商特定的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)，因此數(shù)據(jù)量的大小并不能直接說明問題。-

C3(195)實(shí)時(shí)無法校正錯(cuò)誤計(jì)數(shù) On the fly ECC Uncorrectable Error Count–

這一參數(shù)記錄了無法校正(UECC)的錯(cuò)誤數(shù)量。-

C3(195)編程錯(cuò)誤塊計(jì)數(shù) Program Failure block Count(Indilinx芯片)–

C4(196)重映射事件計(jì)數(shù) Reallocetion Events Count–

數(shù)據(jù)應(yīng)為0，當(dāng)前值應(yīng)遠(yuǎn)大于臨界值。-

這個(gè)參數(shù)的數(shù)據(jù)值記錄了將重映射扇區(qū)的數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)移到備用扇區(qū)的嘗試次數(shù)，是重映射**作的累計(jì)值，成功的轉(zhuǎn)移和不成功的轉(zhuǎn)移都會被計(jì)數(shù)。因此這一參數(shù)與重映射扇區(qū)計(jì)數(shù)(05)相似，都是反映硬盤已經(jīng)存在不良扇區(qū)。-

C4(196)擦除錯(cuò)誤塊計(jì)數(shù) Erase Failure block Count(Indilinx芯片)–

在固態(tài)硬盤中，這一參數(shù)記錄了被重映射的塊編程失敗的數(shù)量。-

C5(197)當(dāng)前待映射扇區(qū)計(jì)數(shù) Current Pending Sector Count–

數(shù)據(jù)應(yīng)為0，當(dāng)前值應(yīng)遠(yuǎn)大于臨界值。-

這個(gè)參數(shù)的數(shù)據(jù)表示了“不穩(wěn)定的”扇區(qū)數(shù)，即等待被映射的扇區(qū)(也稱“被掛起的扇區(qū)”)數(shù)量。如果不穩(wěn)定的扇區(qū)隨后被讀寫成功，該扇區(qū)就不再列入等待范圍，數(shù)據(jù)值就會下降。-

僅僅讀取時(shí)出錯(cuò)的扇區(qū)并不會導(dǎo)致重映射，只是被列入“等待”，也許以后讀取就沒有問題，所以只有在寫入失敗時(shí)才會發(fā)生重映射。下次對該扇區(qū)寫入時(shí)如果繼續(xù)出錯(cuò)，就會產(chǎn)生一次重映射**作，此時(shí)重映射扇區(qū)計(jì)數(shù)(05)與重映射事件計(jì)數(shù)(C4)的數(shù)據(jù)值增加，此參數(shù)的數(shù)據(jù)值下降。-

C5(197)讀取錯(cuò)誤塊計(jì)數(shù)(不可修復(fù)錯(cuò)誤)Read Failure block Count(Indilinx芯片)–

C6(198)脫機(jī)無法校正的扇區(qū)計(jì)數(shù) Offline Uncorrectable Sector Count–

數(shù)據(jù)應(yīng)為0，當(dāng)前值應(yīng)遠(yuǎn)大于臨界值。-

這個(gè)參數(shù)的數(shù)據(jù)累計(jì)了讀寫扇區(qū)時(shí)發(fā)生的無法校正的錯(cuò)誤總數(shù)。數(shù)據(jù)值上升表明盤片表面介質(zhì)或機(jī)械子系統(tǒng)出現(xiàn)問題，有些扇區(qū)肯定已經(jīng)不能讀取，如果有文件正在使用這些扇區(qū)，**作系統(tǒng)會返回讀盤錯(cuò)誤的信息。下一次寫**作時(shí)會對該扇區(qū)執(zhí)行重映射。-

C6(198)總讀取頁數(shù) Total Count of Read Sectors(Indilinx芯片)–

C7(199)Ultra ATA訪問校驗(yàn)錯(cuò)誤率 Ultra ATA CRC Error Rate–

這個(gè)參數(shù)的數(shù)據(jù)值累計(jì)了通過接口循環(huán)冗余校驗(yàn)(Interface Cyclic Redundancy Check，ICRC)發(fā)現(xiàn)的數(shù)據(jù)線傳輸錯(cuò)誤的次數(shù)。如果數(shù)據(jù)值不為0且持續(xù)增長，表示硬盤控制器→數(shù)據(jù)線→硬盤接口出現(xiàn)錯(cuò)誤，劣質(zhì)的數(shù)據(jù)線、接口接觸不良都可能導(dǎo)致此現(xiàn)象。由于這一項(xiàng)的數(shù)據(jù)值不會復(fù)零，所以某些新硬盤也會出現(xiàn)一定的數(shù)據(jù)量，只要更換數(shù)據(jù)線后數(shù)據(jù)值不再繼續(xù)增長，即表示問題已得到解決。-

C7(199)總寫入頁數(shù) Total Count of Write Sectors(Indilinx芯片)–

C8(200)寫入錯(cuò)誤率 Write Error Rate / 多區(qū)域錯(cuò)誤率 Multi-Zone Error Rate(西部數(shù)據(jù))–

數(shù)據(jù)應(yīng)為0，當(dāng)前值應(yīng)遠(yuǎn)大于臨界值。-

這個(gè)參數(shù)的數(shù)據(jù)累計(jì)了向扇區(qū)寫入數(shù)據(jù)時(shí)出現(xiàn)錯(cuò)誤的總數(shù)。有的新硬盤也會有一定的數(shù)據(jù)量，若數(shù)據(jù)值持續(xù)快速升高(當(dāng)前值偏低)，表示盤片、磁頭組件可能有問題。-

C8(200)總讀取指令數(shù) Total Count of Read Command(Indilinx芯片)–

C9(201)脫道錯(cuò)誤率 Off Track Error Rate / 邏輯讀取錯(cuò)誤率 Soft Read Error Rate–

數(shù)據(jù)值累積了讀取時(shí)脫軌的錯(cuò)誤數(shù)量，如果數(shù)據(jù)值不為0，最好備份硬盤上的資料。-

C9(201)TA Counter Detected(意義不明)–

C9(201)寫入指令總數(shù) Total Count of Write Command(Indilinx芯片)–

CA(202)數(shù)據(jù)地址標(biāo)記錯(cuò)誤 Data Address Mark errors–

此項(xiàng)的數(shù)據(jù)值越低越好(或者由制造商定義)。-

CA(202)TA Counter Increased(意義不明)–

CA(202)剩余壽命 Percentage Of The Rated Lifetime Used(Micron 鎂光芯片)–

當(dāng)前值從100開始下降至0，表示所有塊的擦寫余量統(tǒng)計(jì)。計(jì)算方法是以MLC擦寫次數(shù)除以50，SLC擦寫次數(shù)除以1000，結(jié)果取整數(shù)，將其與100的差值作為當(dāng)前值(MLC預(yù)計(jì)擦寫次數(shù)為5000，SLC預(yù)計(jì)擦寫次數(shù)為100000)。-

CA(202)閃存總錯(cuò)誤bit數(shù) Total Count of error bits from flash(Indilinx芯片)–

CB(203)軟件ECC錯(cuò)誤數(shù) Run Out Cancel–

錯(cuò)誤檢查和糾正(ECC)出錯(cuò)的頻度。-

CB(203)校正bit錯(cuò)誤的總讀取頁數(shù) Total Count of Read Sectors with correct bits error(Indilinx芯片)–

CC(204)軟件ECC校正 Soft ECC Correction–

通過軟件ECC糾正錯(cuò)誤的計(jì)數(shù)。-

CC(204)壞塊滿標(biāo)志 Bad Block Full Flag(Indilinx芯片)–

CD(205)熱**動(dòng)錯(cuò)誤率 Thermal Asperity Rate (TAR)–

由超溫導(dǎo)致的錯(cuò)誤。數(shù)據(jù)值應(yīng)為0。-

CD(205)最大可編程/擦除次數(shù) Max P/E Count(Indilinx芯片)–

CE(206)磁頭飛行高度 Flying Height–

磁頭距離盤片表面的垂直距離。高度過低則增加了磁頭與盤片接觸導(dǎo)致?lián)p壞的可能性;高度偏高則增大了讀寫錯(cuò)誤率。不過準(zhǔn)確地說，硬盤中并沒有任何裝置可以直接測出磁頭的飛行高度，制造商也只是根據(jù)磁頭讀取的信號強(qiáng)度來推算磁頭飛行高度。-

CE(206)底層數(shù)據(jù)寫入出錯(cuò)率 Write Error Rate–

CE(206)最小擦寫次數(shù) Erase Count Min(Indilinx芯片)–

CF(207)主軸過電流 Spin High Current–

數(shù)據(jù)值記錄了主軸電機(jī)運(yùn)行時(shí)出現(xiàn)浪涌電流的次數(shù)，數(shù)據(jù)量的增加意味著軸承或電機(jī)可能有問題。-

CF(207)最大擦寫次數(shù) Erase Count Max(Indilinx芯片)–

D0(208)主軸電機(jī)重啟次數(shù) Spin Buzz–

數(shù)據(jù)值記錄了主軸電機(jī)反復(fù)嘗試啟動(dòng)的次數(shù)，這通常是由于電源供電不足引起的。-

D0(208)平均擦寫次數(shù)Erase Count Average(Indilinx芯片)–

D1(209)脫機(jī)尋道性能 Offline Seek Performance–

這一項(xiàng)表示驅(qū)動(dòng)器在脫機(jī)狀態(tài)下的尋道性能，通常用于工廠內(nèi)部測試。-

D1(209)剩余壽命百分比 Remaining Life %(Indilinx芯片)–

D2(210)斜坡加載值 Ramp Load Value–

這一項(xiàng)僅見于幾年前邁拓制造的部分硬盤。通常數(shù)據(jù)值為0，意義不明。-

D2(210)壞塊管理錯(cuò)誤日志 BBM Error Log(Indilinx芯片)–

D3(211)寫入時(shí)振動(dòng) Vibration During Write–

寫入數(shù)據(jù)時(shí)受到受到外部振動(dòng)的記錄。-

D3(211)SATA主機(jī)接口CRC寫入錯(cuò)誤計(jì)數(shù) SATA Error Count CRC (Write)(Indilinx芯片)–

D4(212)寫入時(shí)沖擊 Shock During Write–

寫入數(shù)據(jù)時(shí)受到受到外部機(jī)械沖擊的記錄。-

D4(212)SATA主機(jī)接口讀取錯(cuò)誤計(jì)數(shù) SATA Error Count Count CRC (Read)(Indilinx芯片)–

DC(220)盤片偏移量 Disk Shift–

硬盤中的盤片相對主軸的偏移量(通常是受外力沖擊或溫度變化所致)，單位未知，數(shù)據(jù)值越小越好。-

DD(221)沖擊錯(cuò)誤率 G-sense error rate–

與(BF)相同，數(shù)據(jù)值記錄了硬盤受到外部機(jī)械沖擊或振動(dòng)導(dǎo)致出錯(cuò)的頻度。-

DE(222)磁頭尋道時(shí)間累計(jì) Loaded Hours–

磁頭臂組件運(yùn)行的小時(shí)數(shù)，即尋道電機(jī)運(yùn)行時(shí)間累計(jì)。-

DF(223)磁頭加載/卸載重試計(jì)數(shù) Load/Unload Retry Count–

這一項(xiàng)與(C1)項(xiàng)類似，數(shù)據(jù)值累積了磁頭嘗試重新加載/卸載的次數(shù)。-

E0(224)磁頭阻力 Load Friction–

磁頭工作時(shí)受到的機(jī)械部件的阻力。-

E1(225)主機(jī)寫入數(shù)據(jù)量 Host Writes–

由于閃存的擦寫次數(shù)是有限的，所以這項(xiàng)是固態(tài)硬盤特有的統(tǒng)計(jì)。Intel的SSD是每當(dāng)向硬盤寫入了65536個(gè)扇區(qū)，這一項(xiàng)的數(shù)據(jù)就+1。如果用HDTune等軟件查看**ART時(shí)可以自己計(jì)算， Intel SSD Toolbox已經(jīng)為你算好了，直接就顯示了曾向SSD中寫入過的數(shù)據(jù)量。-

E2(226)磁頭加載時(shí)間累計(jì) Load ‘In’-time–

磁頭組件運(yùn)行時(shí)間的累積數(shù)，即磁頭臂不在?？繀^(qū)的時(shí)間，與(DE)項(xiàng)相似。-

E3(227)扭矩放大計(jì)數(shù) Torque Amplification Count–

主軸電機(jī)試圖提高扭矩來補(bǔ)償盤片轉(zhuǎn)速變化的次數(shù)。當(dāng)主軸軸承存在問題時(shí)，主軸電機(jī)會嘗試增加驅(qū)動(dòng)力使盤片穩(wěn)定旋轉(zhuǎn)。這個(gè)參數(shù)的當(dāng)前值下降，說明硬盤的機(jī)械子系統(tǒng)出現(xiàn)了嚴(yán)重的問題。-

E4(228)斷電返回計(jì)數(shù) Power-Off Retract Cycle–

數(shù)據(jù)值累計(jì)了磁頭因設(shè)備意外斷電而自動(dòng)返回的次數(shù)，與(C0)項(xiàng)相似。-

E6(230)GMR磁頭振幅 GMR Head Amplitude–

磁頭“抖動(dòng)”，即正向/反向往復(fù)運(yùn)動(dòng)的距離。-

E7(231)溫度 Temperature–

溫度的數(shù)據(jù)值直接表示了硬盤內(nèi)部的當(dāng)前溫度，與(C2)項(xiàng)相同。-

E7(231)剩余壽命 SSD Life Left–

剩余壽命是基于P/E周期與可用的備用塊作出的預(yù)測。新硬盤為100;10表示PE周期已到設(shè)計(jì)值，但尚有足夠的保留塊;0表示保留塊不足，硬盤將處于只讀方式以便備份數(shù)據(jù)。-

E8(232)壽命余量 Endurance Remaining–

壽命余量是指硬盤已擦寫次數(shù)與設(shè)計(jì)最大可擦寫次數(shù)的百分比，與(CA)項(xiàng)相似。-

E8(232)預(yù)留空間剩余量 Available Reserved Space(Intel芯片)–

對于Intel的SSD來說，前邊05項(xiàng)提到會保留一些容量來準(zhǔn)備替換損壞的存儲單元，所以可用的預(yù)留空間數(shù)非常重要。當(dāng)保留的空間用盡，再出現(xiàn)損壞的單元就將出現(xiàn)數(shù)據(jù)丟失，這個(gè)SSD的壽命就結(jié)束了。所以僅看05項(xiàng)意義并不大，這一項(xiàng)才最重要。這項(xiàng)參數(shù)可以看當(dāng)前值，新的SSD里所有的預(yù)留空間都在，所以是100。隨著預(yù)留空間的消耗，當(dāng)前值將不斷下降，減小到接近臨界值(一般是10)時(shí)，就說明只剩下10%的預(yù)留空間了，SSD的壽命將要結(jié)束。這個(gè)與(B4)項(xiàng)相似。-

E9(233)通電時(shí)間累計(jì) Power-On Hours–

對于普通硬盤來說，這一項(xiàng)與(09)相同。-

E9(233)介質(zhì)磨耗指數(shù) Media Wareout Indicator(Intel芯片)–

由于固態(tài)硬盤的擦寫次數(shù)是有限的，當(dāng)?shù)竭_(dá)一定次數(shù)的時(shí)候，就會出現(xiàn)大量的單元同時(shí)損壞，這時(shí)候預(yù)留空間也頂不住了，所以這項(xiàng)參數(shù)實(shí)際上表示的是硬盤設(shè)計(jì)壽命。Intel的SSD要看當(dāng)前值，隨著NAND的平均擦寫次數(shù)從0增長到最大的設(shè)計(jì)值，這一參數(shù)的當(dāng)前值從開始的100逐漸下降至1為止。這表示SSD的設(shè)計(jì)壽命已經(jīng)終結(jié)。當(dāng)然到達(dá)設(shè)計(jì)壽命也不一定意味著SSD就立即報(bào)廢，這與閃存芯片的品質(zhì)有著很大的關(guān)系。-

注：Total Erase Count全擦寫計(jì)數(shù)是指固態(tài)硬盤中所有塊的擦寫次數(shù)的總和，不同規(guī)格的NAND芯片以及不同容量的SSD，其最大全擦寫次數(shù)均有所不同。-

F0(240)磁頭飛行時(shí)間 Head Flying Hours / 傳輸錯(cuò)誤率 Transfer Error Rate(富士通)–

磁頭位于工作位置的時(shí)間。-

富士通硬盤表示在數(shù)據(jù)傳輸時(shí)連接被重置的次數(shù)。-

F1(241)LBA寫入總數(shù) Total LBAs Written–

LBA寫入數(shù)的累計(jì)。-

F1(241)寫入剩余壽命 Lifetime Writes from Host–

自硬盤啟用后主機(jī)向硬盤寫入的數(shù)據(jù)總量，以4個(gè)字節(jié)表示，每寫入64GB字節(jié)作為一個(gè)單位。-

F2(242)LBA讀取總數(shù) Total LBAs Read–

LBA讀取數(shù)的累計(jì)。某些**ART讀取工具會顯示負(fù)的數(shù)據(jù)值，是因?yàn)椴捎昧?8位LBA，而不是32位LBA。-

F2(242)讀取剩余壽命 Lifetime Reads from Host–

自硬盤啟用后主機(jī)從硬盤讀取的數(shù)據(jù)總量，以4個(gè)字節(jié)表示，每讀取64GB字節(jié)作為一個(gè)單位。-

FA(250)讀取錯(cuò)誤重試率 Read Error Retry Rate–

從磁盤上讀取時(shí)出錯(cuò)的次數(shù)。-

FE(254)自由墜落保護(hù) Free Fall Protection–

現(xiàn)在有些筆記本硬盤具有自由墜落保護(hù)功能，當(dāng)硬盤內(nèi)置的加速度探測裝置檢測到硬盤位移時(shí)，會立即停止讀寫**作，將磁頭臂復(fù)位。這個(gè)措施防止了磁頭與盤片之間發(fā)生摩擦撞擊，提高了硬盤的抗震性能。這個(gè)參數(shù)的數(shù)據(jù)里記錄了這一保護(hù)裝置動(dòng)作的次數(shù)。-

本文由程心轉(zhuǎn)載于網(wǎng)絡(luò)而成，如有侵權(quán)，請聯(lián)系站長刪除

首页国产欧美日韩丝袜,欧美不卡视频一区,精品婷婷色一区二区三区蜜桃

《最終幻想7：重生》PS5至少需要150GB

華碩ROG 槍神2/魔霸2游戲本開賣：售價(jià)13999元起

S.M.A.R.T. 屬性參數(shù)詳解(**artisan os)

二、**ART的ID代碼

三、**ART的描述(Description)

四、**ART的值

五、狀態(tài)(Status)

六、**ART參數(shù)詳解

首页国产欧美日韩丝袜,欧美不卡视频一区,精品婷婷色一区二区三区蜜桃

《最終幻想7：重生》PS5至少需要150GB

華碩ROG 槍神2/魔霸2游戲本開賣：售價(jià)13999元起

S.M.A.R.T. 屬性參數(shù)詳解(**artisan os)

二、**ART的ID代碼

三、**ART的描述(Description)

四、**ART的值

五、狀態(tài)(Status)

六、**ART參數(shù)詳解

二、**ART的ID代碼

三、**ART的描述(Description)

四、**ART的值

五、狀態(tài)(Status)

六、**ART參數(shù)詳解